Kompakt AFM, atomkraftmikroskop

Kompakt och lättanvänt atommikroskop för visualisering av strukturer på mikro- och nanometerskala. Designat för undervisningsändamål i praktiska laboratoriekurser och forskningslaboratorier inom fysik, kemi, biovetenskap och materialvetenskap.

Kompakt allt-i-ett-instrument:

• Lätt att hantera, lätt att bära med sig
• Komplett didaktisk lösning: instrument + prover + sonder + verktyg + experimentguider
• Forskningsinriktat mikroskopsystem till ett lågt pris för ett forskningsinstrument
• Automatisk inställning av sond till prov för att undvika skador på både prover och sond
• Sonder som är lätta att sätta in och byta ut
• Ingen laserjustering behövs

Specifikationer:

• Funktionslägen: statisk kraft, dynamisk kraft, kraftavståndsspektroskopi, amplitudavståndsspektroskopi, spänningsavståndsspektroskopi, faskontrastläge, MFM, EFM.
• Scanningshuvud med integrerad styrenhet på vibrationsisolerat testkort: mått 21 cm x 21 cm x 18 cm, USB 2.0-gränssnitt.
• Tippmekanism för åtkomst till spets och prov, med automatisk tillbakadragning av scanningshuvudet och automatisk avstängning av provbelysningen.
• Maximal scanningshastighet på 60 ms/linje, upp till 2048x2048 datapunkter.
• Scanningstyp (tip scanner): linjär elektromagnetisk lågspänning.
• Maximalt scanningsområde: 70 µm (10% tillverkningstolerans).
• Maximalt Z-område: 14 µm.
• Drive-upplösning i XY: 1,1 nm.
• Brusnivå vid Z-mätning (RMS statiskt läge): 0,6 nm.
• Brusnivå vid Z-mätning (RMS dynamiskt läge): 0,5 nm.
• Automatisk inställning: vertikal, intervall 4,5 mm.
• Provstorlek: max. 13 mm diameter, horisontell montering, magnetiskt fixerad.
• Mikrometer translation steg xy: körning i varje riktning min. +/- 5 mm.
• Cantilever Aligment: automatisk justering.
• Kragarmar: med justeringsspår för kragarmar från olika leverantörer.
• Kamerasystem för vy uppifrån: USB digital färg, 2048x1536 pixlar, mindre än 2m upplösning, Digital zoom: x1, 2x, x4.Synfält för vy uppifrån/från sidan: ca 3 mm x 3 mm / 5 mm x 5 mm.
• Provbelysning: Vit LED, elektrisk anslutning till spetsen.
• Andra lägen (spridningsmotstånd, kraftmodulering, konduktiv AFM, litografi och avancerade spektroskopilägen) finns tillgängliga med uppgraderingsalternativ material och spektroskopi och manipulation.
• Strömförsörjning: 100-240V, 50/60Hz.Plastväska med måtten 44cm x 32cm x 25cm.Programvara för mätning, manipulation, analys och visualisering (en, två och tre dimensioner).
• Handbok inkl. kort beskrivning av inledande experiment och 5 detaljerade experimentguider: grundläggande avbildningsmetoder, grundläggande kraftspektroskopi, materialkontrast, MFM, avbildning av biologiska prover.
• Vikt (inkl. väska): 10 kg.

 

Denna text är översatt med AI från vår danska webbplats frederiksen-scientific.dk. Innehållet har kvalitetssäkrats professionellt, men översättningsfel kan förekomma